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TRIOPTICS全欧光学 平面元件型波前测量仪  WaveMaster® Plan
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TRIOPTICS全欧光学 平面元件型波前测量仪  WaveMaster® Plan

为了能够验证复杂的光学设计在生产中是否成功，必须使用一个有效的检测技术。波前测量特别适合此目的，因为它可以在空间分辨的基础上确定图像质量，包括所有视场角上和整个样品孔径。与传统的MTF测试相比，波前测试是用点扩散函数进行评价，可覆盖整个样品口径。
名称： 波前测试系统
规格： 套
品牌： TRIOPTICS全欧光学
型号： WaveMaster® Plan
特点： WaveMaster®Plan平面波前测量仪使用夏克-哈特曼型波前传感器对平面产品进行波前测量。
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01 ▏灵敏度高

WaveSensor和WaveMaster®系列波前测试系统的动态范围高达2000λ，可在镜头设计中实现高度灵敏的测量。


02 ▏重复精度高

除了高达λ/20 (RMS)的测量精度外，由于紧凑、坚固和抗振的设计，还实现了λ/200 (RMS)的高重复性。


03 ▏实时分析

实时将测量波前数据的结果与样品镜片或设计值的结果进行比较和评估。



WaveMaster® Plan 平面产品的测量

WaveMaster®Plan平面波前测量仪使用夏克-哈特曼型波前传感器对平面产品进行波前测量。

  • 平面光学元件的综合波前分析

  • 快速简便的测量：手动放置样品可通过XY平移台进行调整

  • 通过抗振结构实现稳定且不受环境影响的测量

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