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功率半导体器件【动态】特性测试系统
功率半导体模块【静态】测试系统
Total Solution ————————————————————
一站式动态测试
系统
从实验室到生产线的全覆盖
从Si到SiC的全覆盖
从 IDM 芯片企业到封装企业,再到应用企业的全覆盖
从“SiC 晶圆、Discrete 单管,再到不同封装形式 Power Module,以及逆变器(电控)的全覆盖
—— One Stop功能选配专区  不断延展的新功能
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One More夹具选配专区
主机设备可定制针对不同封装功率半导体模块的测试工装
功率半导体器件静态特性测试系统 STATIC CHARACTERISER For SiC and Si Power Modules


更可靠—测试稳定

电流源精度:pA级

电压源精度:mV级

电阻测量精度:μΩ级

电容测量精度:pF级

更宽—测试范围

具有高压输出测量能力(3000V,可扩展到10000V)

具有大电流输出测量能力(1000A,可扩展至2000A)
超宽范围饱和压降测试能力,最高可至12V超窄脉宽测试能力,最小脉宽50us

更强—测试能力

同时满足SiC MOSFET和硅基IGBT 器件测试

覆盖从器件级到模块级不同封装的测试

覆盖-40℃~200℃ 全温度范围测试

更划算—极致性价比

对标业界顶尖静态测试系统,实现功能全覆盖下的极致性价比

适配不同封装形式的工装,提供多样化选择

脉冲电流源可模块化扩容升级

更可靠—测试稳定

采用泰克等业界顶尖源表产品,质量可靠,测试稳定

具有双通道电压检测能力,具备半桥模块上下管同时测量能力,提高测试稳定性及测试效率

日置产品 存储记录仪 数据采集仪 LCR测试仪
电阻计
阻抗分析仪
功率分析仪
电压计
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专业的电参数测试仪器供应商
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