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● 荧光分光光度计
● 紫外可见分光光度计
● 原子吸收分光光度计
● 扫描电镜
● 电子显微镜
● 原子力显微镜
● 离子研磨仪
● 高效液相色谱仪
● 氨基酸分析仪
● X射线荧光光谱分析仪
● 火花直读光谱仪
● 手持式荧光光谱仪
● X射线异物分析仪
● RoHS2.0解决方案
● 热分析仪
● XRF镀层测厚仪
● 全自动生化分析仪
● 平沼.电位滴定仪
● 卡尔费休水分滴定仪
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平沼COM-1700A全自动电位滴定仪
COM-1700A
滴定检测仪
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为增强SEM与AFM等分析设备的联用功能,满足从研发到质量控制的广泛需求,日立高新技术株式会社(以下简称“日立高新技术”)宣布推出新的扫描探针显微镜系统“AFM5500MII”(以下简称“本产品”),该系统提高了使用多种分析设备观察同一样品时的观察精度和可操作性。日立AFM5500MII扫描探针显微镜近年来,半导体和金属材料领域在功能性,小型化、结构复杂化和多层化方面一直在进步。因此,越来越...
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